X射线测厚仪是一种非接触式的动态计量仪器，利用X射线穿透被测材料时，X射线强度的变化与材料厚度相关的特性来测定材料厚度。它广泛应用于测量薄膜涂层的厚度，尤其是在金属和非金属材料的涂层厚度测量中。

　　测厚仪在测量过程中不会损坏被测材料，且操作快速、高效，适用于多种不同材料的涂层厚度测量。

　　X射线测厚仪，则强调了其作为一种非接触式动态计量仪器的特点，适用于生产铝板、铜板、钢板等冶金材料的企业，可以与轧机配套使用，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧等多种生产过程。

　　总的来说，X射线测厚仪在测量薄膜涂层厚度方面具有高精度、快速测量和不会损坏被测材料等优点，适用于多种工业应用场景。